04.07.201404.07.2014 Берта

У нас вы можете скачать гост 25369-82 в fb2, txt, PDF, EPUB, doc, rtf, jar, djvu, lrf!

Схема расположения средств измерений и вспомогательных устройств должна соответствовать указанной на черт. Вид схемы включения должен быть указан в нормативно-технической документации на фотоэлементы конкретных типов. Измерения производят путем обработки осциллограммы сигнала на выходе исследуемого фотоэлемента.

Получают на экране осциллографа изображение выходного сигнала фотоэлемента. Двойной монохроматор типа ДМР При измерении длительности импульсной характеристики необходимо выполнение условия: Средство измерения максимальной мощности однократного импульса оптического излучения, аттестованное или прошедшее поверку СИ ММ с известными параметрами.

К СИ ММ, используемому в качестве контрольного, предъявляется требование к стабильности спектральной чувствительности за время измерений, определяемой допустимой погрешностью измерений.

Для измерений могут применяться другие средства измерений с аналогичными или лучшими характеристиками. Для основной относительной погрешности измерений спектральной чувствительности на фиксированных длинах волн составляющие основной относительной погрешности определяют по формулам.

Основная относительная погрешность измерения темнового тока. В качестве нексключенкой систематической погрешности результата измерений 9 учитывают основную относительную погрешность средства измерений 5, черт. Относительное среднее квадратическое отклонение S результата измерений предела линейности в импульсном режиме оценивают по результатам измерений,.

Основная относительная погрешность измерений длительности импульсной характеристики по уровню 0,5. Относительное среднее квадратическое отклонение S результата измерений длительности импульсной характеристики по уровню 0,5 вычисляют по результатам, полученным в п. Методы измерений основных параметров. Н 9 Жуховцееа Сдано в наб.

Источник питания исследуемого фотоэлемента. Для работы в ультрафиолетовой части спектра нм применяют газоразрядные лампы с водородным наполнением - водородная лампа типов ВЛФ, ВЛФ или газоразрядные лампы с дейтериевым наполнением типов ДДС, ДДС с увиолевыми, кварцевыми, сапфировыми или фтористомагниевыми окнами в зависимости от исследуемого спектрального диапазона.

Для работы в длинно-волновом участке ультрафиолетового спектра нм , а также в видимой и ближней ИК-области нм следует применять ленточную лампу накаливания типа СИу, имеющую увиолевое, сапфировое или кварцевое окно. В качестве источника оптического излучения могут использоваться: При измерении длительности импульсной характеристики необходимо выполнение условия: Блок питания и контроля режима источника излучения. Для контроля режима источника излучения применять амперметр класса точности не ниже 0,2 для ламп накаливания и класса точности не ниже 0,5 для газоразрядных ламп.

Класс точности 1,0 Диапазон В. Класс точности 1,0 Диапазон 0, мкА. Средство измерения максимальной мощности однократного импульса оптического излучения, аттестованное или прошедшее поверку СИ ММ с известными параметрами. К СИ ММ, используемому в качестве контрольного, предъявляется требование к стабильности спектральной чувствительности за время измерений, определяемой допустимой погрешностью измерений.

Составляющая основной погрешности, обусловленная нестабильностью коэффициента ослабления измерительных ослабителей, не должна превышать погрешность остальных средств измерений за время измерений параметров фотоэлементов. Для измерений могут применяться другие средства измерений с аналогичными или лучшими характеристиками. Применяются диафрагмы с размером , равным 2, 4, 7, 10 и 12 мм.

Для основной относительной погрешности измерений спектральной чувствительности на фиксированных длинах волн составляющие основной относительной погрешности определяют по формулам. Основная относительная погрешность измерения темнового тока.

Относительное среднее квадратическое отклонение результата измерений темнового тока оценивают по результатам измерений, полученным в п. В качестве неисключенной систематической погрешности результата измерений учитывают основную относительную погрешность средства измерений 5, черт.

Основная относительная погрешность измерений предела линейности характеристики преобразования в импульсном режиме. Относительное среднее квадратическое отклонение результата измерений предела линейности в импульсном режиме оценивают по результатам измерений, полученным в п. Неисключенную систематическую погрешность определяют по формуле. Основная относительная погрешность измерений длительности импульсной характеристики по уровню 0,5.

Относительное среднее квадратическое отклонение результата измерений длительности импульсной характеристики по уровню 0,5 вычисляют по результатам, полученным в п. Электронный текст документа подготовлен ЗАО "Кодекс" и сверен по: Текст документа Статус Сканер копия. ГОСТ Фотоэлементы измерительные. Методы измерений основных параметров Название документа: Методы измерений основных параметров Номер документа: Издательство стандартов, год официальное издание Дата принятия: Данный документ представлен в формате djvu.

Методы измерений основных параметров Measuring photocells. Basic parameters, measuring methods of basic parameters Дата введения Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 30 июля г.

Подготовка к измерениям 1. Таблица 1 Параметры характеристики фотоэлемента Значения параметров, на которые распространяются методы, приведенные в настоящем стандарте Номера пунктов стандарта Область спектральной чувствительности, мкм 0,,3 3. Подготовка и проведение измерений 3.

При использовании в качестве контрольных неселективных приемников относительную спектральную характеристику чувствительности исследуемого фотокатода определяют по формуле , 1 где - выходной сигнал исследуемого фотокатода; - выходной сигнал контрольного приемника. При использовании в качестве контрольных селективных приемников с известной относительной спектральной характеристикой чувствительности относительную спектральную характеристику чувствительности исследуемого фотокатода определяют по формуле , 2 где - относительная спектральная характеристика чувствительности контрольного приемника.

Метод измерений спектральной чувствительности на фиксированных длинах волн 3. Коэффициент деления рассчитывают по формуле , 3 где - результат единичного наблюдения коэффициента деления делительной пластины; - показания контрольного средства измерений - максимальное значение мощности излучения, отраженного от делительной пластины; - максимальное значение мощности излучения, прошедшего через делительную пластину.

Среднее значение коэффициента деления делительной пластины определяют по формуле 4 и принимают его за результат измерений. Спектральную чувствительность определяют путем измерений фототока в цепи или напряжения на выходе фотоэлементов и вычисляют по формуле , 5 где - результат единичного наблюдения спектральной чувствительности; - фототок напряжение в цепи на выходе фотоэлемента; - коэффициент деления делительной пластины.

Среднее значение спектральной чувствительности фотоэлемента , определяют по формуле 6 и принимают его за результат измерений. Метод измерений темнового тока 3. Среднее значение темнового тока определяют по формуле 7 и принимают его за результат измерений. Метод измерений соответствия характеристики преобразования заданному пределу линейности в импульсном режиме 3. Фототок рассчитывается по формуле , 8 где - напряжение на резисторе нагрузки, В; - сопротивление нагрузки, Ом.

Проводят серию из наблюдений 5 определяют среднее значение по формуле 10 и принимают его за результат измерений. Метод измерений длительности импульсной характеристики по уровню 0,5 3. Среднее значение длительности импульсной характеристики определяют по формуле 11 и принимают его за результат измерений. Электронная техника, кроме резисторов и конденсаторов Подраздел: Приборы электронные, кроме микросхем интегральных и приборов пьезоэлектрических Подраздел: Огурцов Технический редактор А.

ГОСТ Фотоэлементы измерительные. Методы измерений основных параметров. Способы доставки Срочная курьерская доставка дня Курьерская доставка 7 дней Самовывоз из московского офиса Почта РФ. Лазерное оборудование А также в:.